黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試各有哪些優(yōu)缺點(diǎn)，應(yīng)該如何結(jié)合才能解決漏洞和冗余問(wèn)題？黑盒測(cè)試與軟件實(shí)現(xiàn)無(wú)關(guān)。測(cè)試用例開(kāi)發(fā)可以與實(shí)現(xiàn)并行進(jìn)行，因此可以減少項(xiàng)目開(kāi)發(fā)的總時(shí)間。但是，測(cè)試用例之間可能存在嚴(yán)重的冗余，并且可

黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試各有哪些優(yōu)缺點(diǎn)，應(yīng)該如何結(jié)合才能解決漏洞和冗余問(wèn)題？

黑盒測(cè)試與軟件實(shí)現(xiàn)無(wú)關(guān)。測(cè)試用例開(kāi)發(fā)可以與實(shí)現(xiàn)并行進(jìn)行，因此可以減少項(xiàng)目開(kāi)發(fā)的總時(shí)間。但是，測(cè)試用例之間可能存在嚴(yán)重的冗余，并且可能存在未經(jīng)測(cè)試的軟件漏洞。

白盒測(cè)試僅限于完成的代碼行為，這與代碼過(guò)于接近。

如果將黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試的覆蓋指數(shù)相結(jié)合，將發(fā)現(xiàn)并解決冗余和漏洞問(wèn)題。

如果發(fā)現(xiàn)多個(gè)功能測(cè)試用例遍歷同一程序路徑，可以懷疑這種冗余不會(huì)有新的缺陷。如果沒(méi)有達(dá)到一定的DD路徑覆蓋率，就可以知道功能測(cè)試用例中存在漏洞。