test指令舉例 匯編指令test的用法?
匯編指令test的用法?Test是一條邏輯運算指令,其功能是執(zhí)行位與位之間的邏輯運算和Test函數(shù)(兩個操作數(shù)用于and運算,只修改標(biāo)志位,不返回結(jié)果)。Test對兩個參數(shù)(目標(biāo)、源)執(zhí)行and邏輯運
匯編指令test的用法?
Test是一條邏輯運算指令,其功能是執(zhí)行位與位之間的邏輯運算和Test函數(shù)(兩個操作數(shù)用于and運算,只修改標(biāo)志位,不返回結(jié)果)。Test對兩個參數(shù)(目標(biāo)、源)執(zhí)行and邏輯運算,并根據(jù)結(jié)果設(shè)置標(biāo)志寄存器,因此結(jié)果本身不會被保存。Est ax,BX與ax,BX具有相同的效果。測試語法規(guī)范:testr/m,R/m/data。其影響標(biāo)記包括:C、O、P、Z、s(其中C和O標(biāo)記將設(shè)置為0)。測試應(yīng)用示例:使用測試指令測試位,例如寄存器:test eax,100b/b后綴表示二進制/JNZ^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^。CMP是一種算術(shù)運算指令。它的功能是比較兩個值(寄存器、內(nèi)存、直接值)。其語法格式為CMP、R/m、R/m/data。受影響的標(biāo)志位包括C、P、a、Z、O。CMP比較。(兩個操作數(shù)相減,只修改標(biāo)志位,不返回結(jié)果)。實際上,CMP只設(shè)置標(biāo)志,不保存結(jié)構(gòu)的減法,并設(shè)置z標(biāo)志(零標(biāo)志)。零標(biāo)志與進位非常相似,也是內(nèi)部標(biāo)志寄存器的一個位。
誰能告訴我匯編中TEST的用法?
測試指令和and指令執(zhí)行相同的操作,但測試指令不返回操作結(jié)果,只影響標(biāo)志位。例如test Al,01,如果Al的最低位是1,那么ZF=0,否則ZF=1,測試指令一般用來檢測控制位置是1還是0,這是指一個物理狀態(tài)(如果滿足,請設(shè)置最好,謝謝)