如何簡(jiǎn)單分析XRD圖譜？XRD峰面積表示晶體的含量。面積越大，晶相含量越高。窄峰表明晶粒尺寸較大。晶粒尺寸可用舍勒公式計(jì)算。如果x射線衍射譜峰高相對(duì)較高，說(shuō)明晶相含量較高，這與面積相含量一致。如果XR

如何簡(jiǎn)單分析XRD圖譜？

XRD峰面積表示晶體的含量。面積越大，晶相含量越高。窄峰表明晶粒尺寸較大。晶粒尺寸可用舍勒公式計(jì)算。如果x射線衍射譜峰高相對(duì)較高，說(shuō)明晶相含量較高，這與面積相含量一致。如果XRD圖譜的峰高比B峰高得多，且兩個(gè)峰的高度比“a/C”對(duì)應(yīng)的峰相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)粉末衍射圖譜的高度比高得多，則材料是一條沿a方向擇優(yōu)取向的熱重曲線，通過(guò)熱重分析，得到了程控溫度下物料質(zhì)量與溫度的關(guān)系曲線。熱重（TG）曲線，橫坐標(biāo)表示溫度或時(shí)間，縱坐標(biāo)表示質(zhì)量，也可以用失重率等形式表示。由于樣品質(zhì)量變化的實(shí)際過(guò)程不是同時(shí)發(fā)生的，而是在一定溫度下瞬間完成的，因此TGA曲線的形狀不是直角臺(tái)階形狀，而是具有過(guò)渡段和斜截面的曲線。

XRD圖譜怎么分析呢？

1. 在通過(guò)衍射儀獲得的XRD圖案中，如果樣品是較好的“結(jié)晶狀態(tài)”，則圖案的特征是存在多個(gè)或多個(gè)通常相互獨(dú)立的窄“峰”。

2. 如果這些“峰”明顯加寬，則可以確定樣品中晶體的粒徑小于300nm，稱為“微晶”。

3. Scherrer（1918）揭示了衍射峰的展寬是由于偏離Bragg條件時(shí)，在相應(yīng)晶面方向上的原子厚度（層數(shù)）不足以削弱相干衍射峰。當(dāng)衍射峰的寬度增大到接近其高度時(shí)（或高度減小到接近其寬度時(shí)），樣品可視為非晶態(tài)。

4. 對(duì)于相同的材料，窄峰表明晶粒尺寸較大，與結(jié)晶度無(wú)關(guān)。在相同儀器條件和相同試驗(yàn)條件下，峰高越高，結(jié)晶越好。