sem掃描電鏡元素分析 sem如何分析掃描電鏡圖？sem元素含量怎么測？ 第一，掃描電鏡照片是灰度圖像，分為二次電子圖像和背散射電子圖像，主要用于觀察表面微觀形態(tài)或分布觀察表面元素。一般二

sem掃描電鏡元素分析

sem如何分析掃描電鏡圖？

sem元素含量怎么測？

第一，掃描電鏡照片是灰度圖像，分為二次電子圖像和背散射電子圖像，主要用于觀察表面微觀形態(tài)或分布觀察表面元素。
一般二次電子圖像主要反映樣品表面的微觀形狀，與自然光反映的形狀基本一致，特殊情況需要對比分析。
背散射電子像主要反映樣品表面元素的分布，區(qū)域越亮，原子序數(shù)越高。
第二，看表面形狀，電子成像，亮區(qū)高，暗區(qū)低
很薄的薄膜，背散射電子會造成假象。導電性差時，電子積聚也會造成假象。

sem元素分析原理？

SEM成像原理是通過探測器獲得二次電子和背散射電子信號。樣品不導電導電，會造成表面多余電子或游離顆粒的積累，不能及時導出。達到一定程度后，會反復充放電，最終影響電子信號的傳圖像扭曲、變形和晃動。因此，對于不導電的樣品，其表面通常需要鍍金(圖像觀察)或鍍碳(成分分析)。

如何確定掃描電鏡中元素的組成？

組成材料的原子受到適當能量的電子激發(fā)后，會躍遷到高能量狀態(tài)，然后自然退化，釋放出特征x射線。所謂特征，就是不同元素釋放出來的x射線能量(也可以說是波長)和指紋一樣，對應元素類型。波譜或能譜測量特征x從而判斷材料的元素組成