如何使用U啟動(dòng)Win PE硬盤(pán)分區(qū)表面測(cè)試壞扇區(qū)
制作U啟動(dòng)V6.3裝機(jī)版U盤(pán)啟動(dòng)盤(pán)首先,將制作好的U啟動(dòng)V6.3裝機(jī)版U盤(pán)啟動(dòng)盤(pán)插入電腦的USB接口。接著,重啟電腦,在出現(xiàn)電腦開(kāi)機(jī)畫(huà)面時(shí),利用一鍵U盤(pán)啟動(dòng)快捷鍵的方法進(jìn)入U(xiǎn)啟動(dòng)主菜單界面。選擇【0
制作U啟動(dòng)V6.3裝機(jī)版U盤(pán)啟動(dòng)盤(pán)
首先,將制作好的U啟動(dòng)V6.3裝機(jī)版U盤(pán)啟動(dòng)盤(pán)插入電腦的USB接口。接著,重啟電腦,在出現(xiàn)電腦開(kāi)機(jī)畫(huà)面時(shí),利用一鍵U盤(pán)啟動(dòng)快捷鍵的方法進(jìn)入U(xiǎn)啟動(dòng)主菜單界面。選擇【03】運(yùn)行U啟動(dòng)Win PE增強(qiáng)版,并按回車(chē)鍵確認(rèn)選擇。
進(jìn)入U(xiǎn)啟動(dòng)Win PE系統(tǒng)并打開(kāi)PTDD分區(qū)表醫(yī)生
成功進(jìn)入U(xiǎn)啟動(dòng)Win PE系統(tǒng)后,依次點(diǎn)擊開(kāi)始 → 程序 → 磁盤(pán)管理 → PTDD分區(qū)表醫(yī)生。這個(gè)操作可以讓您方便地進(jìn)行硬盤(pán)分區(qū)表面測(cè)試,確保磁盤(pán)的安全性。
開(kāi)始硬盤(pán)分區(qū)表面測(cè)試
在打開(kāi)的PTDD分區(qū)表醫(yī)生主窗口界面中,單擊選擇一個(gè)磁盤(pán)分區(qū),然后點(diǎn)擊分區(qū) → 表面測(cè)試。這個(gè)過(guò)程會(huì)自動(dòng)檢測(cè)和查找壞扇區(qū),幫助您及時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并進(jìn)行修復(fù)。
等待測(cè)試完成
接著,耐心等待硬盤(pán)分區(qū)表面測(cè)試的完成。這個(gè)過(guò)程可能需要一些時(shí)間,取決于您的硬盤(pán)大小和速度。測(cè)試完成后,您將能清楚地了解硬盤(pán)的狀況。
完成測(cè)試并退出工具
當(dāng)硬盤(pán)分區(qū)表面測(cè)試完成后,會(huì)彈出一個(gè)提示窗口。點(diǎn)擊“確定”按鈕退出工具,這樣您就可以對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行查看和分析。通過(guò)定期進(jìn)行分區(qū)表面測(cè)試,您可以確保硬盤(pán)的正常運(yùn)行,避免數(shù)據(jù)丟失和其他問(wèn)題的發(fā)生。
通過(guò)以上步驟,您可以輕松地使用U啟動(dòng)Win PE硬盤(pán)分區(qū)表面測(cè)試功能,提高硬盤(pán)的安全性和穩(wěn)定性。記得定期進(jìn)行硬盤(pán)檢測(cè)和維護(hù),保障您的數(shù)據(jù)和系統(tǒng)的完整性。